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    高性能比表面及微孔分析儀

    簡要描述:kubo-x2000高精度孔徑及比表面分析儀:一款可應用于微孔領域的多分析站(多3組測試單元,可同時測試9個樣品)全自動物理吸附分析儀;對于微孔(0.7-2nm)、超微孔(0.35-0.7nm)及超小比表面(<1m2/g)樣品具有好的測試精度,滿足科研及學術探討等多方面應用需求。

    • 更新時間:2024-09-12
    • 產品型號:Kubo-X2000
    • 廠商性質:生產廠家
    • 訪  問  量:1755
    詳細介紹

    kubo-x2000高精度孔徑及比表面分析儀

    產品介紹

    Kubo-X2000是一款可應用于微孔領域的多分析站(多3組測試單元,可同時測試9個樣品)全自動物理吸附分析儀;對于微孔(0.7-2nm)、超微孔(0.35-0.7nm)及超小比表面(<1m2/g)樣品具有優的測試精度,滿足科研及學術探討等多方面應用需求

    ■ 產品特點

    超快的微孔分析效率  Kubo-X2000標配2組獨立測試單元

    Kubo-X2000標配二組*獨立并行的測試單元(可增配3組測試單元),每組可配置3個樣品分析口和1個Po分析口,多可同時進行6個樣品分析,均可以實現超微孔、微孔、介孔、大孔、低比表面樣品的測試。各測試單元可同時工作,有獨立的控制系統。各測試單元互不影響,具有獨立的氣路控制系統和壓力探測系統,不需要等待其他分析位完成當前進程再開始下一進程

         微孔分析性能 相對壓力P/P0在10-6-10-8區間內可獲得準確
    對于微孔、超微孔樣品的比表面和孔徑測試,要求設備具有高的真空度和壓力探測能力。
    Kubo-X2000在配置了領域內好的硬件基礎上融合了多的核心技術: *的高真空雙穩態閥體,;壓力測試的B-ST技術,真實的反饋每一次投氣后的吸附狀態;死體積動態校準技術,實現測試時間與死體積定量的動態校準;PFC高精度壓力電控系統大大縮短真空時間,測試速度多可提升50%
           獨立的智能樣品脫氣站 多種AI智能判定模式及處理方案可選
    市面上大部分儀器都是采用在主機上脫氣的方式,并且設置固定脫氣時間,不僅效率低,而且不能滿足大多數樣品的需求。Kubo-X2000配置*獨立的樣品前處理器,獨立的樣品處理器,可以保障樣品分析的的同時,進行下一批次樣品的前處理工作,進而提高儀器和人員的工作效率,儀器通過AI智能判定模式及多種樣品處理方案,真空抽離及升溫脫水,注氣保護等方式,使樣品達到制備要求。

    ■ 產品介紹

    Kubo-X2000是一款可應用于微孔領域的多分析站(多3組測試單元,可同時測試9個樣品)全自動物理吸附分析儀;擁有*的技術、的品質、全面的理論模型,對于微孔(0.7-2nm)、超微孔(0.35-0.7nm)及超小比表面(<1m2/g)樣品具有優的測試精度,滿足科研及學術探討等多方面應用需求
    ■ 產品特點

    超快的微孔分析效率  Kubo-X2000標配2組獨立測試單元

    Kubo-X2000標配二組*獨立并行的測試單元(可增配3組測試單元),每組可配置3個樣品分析口和1個Po分析口,多可同時進行6個樣品分析,均可以實現超微孔、微孔、介孔、大孔、低比表面樣品的測試。各測試單元可同時工作,有獨立的控制系統。各測試單元互不影響,具有獨立的氣路控制系統和壓力探測系統,不需要等待其他分析位完成當前進程再開始下一進程

    *的微孔分析性能 相對壓力P/P0在10-6-10-8區間內可獲得準確
         對于微孔、超微孔樣品的比表面和孔徑測試,要求設備具有高的真空度和壓力探測能力。
    Kubo-X2000在配置了領域內好的硬件基礎上融合了多的核心技術: 高真空雙穩態閥體,壓力測試的B-ST技術,真實的反饋每一次投氣后的吸附狀態;死體積動態校準技術,實現測試時間與死體積定量的動態校準;PFC高精度壓力電控系統大大縮短真空時間,測試速度多可提升50%

    獨立的智能樣品脫氣站 多種AI智能判定模式及處理方案可選
    市面上大部分儀器都是采用在主機上脫氣的方式,并且設置固定脫氣時間,不僅效率低,而且不能滿足大多數樣品的需求。Kubo-X2000配置*獨立的樣品前處理器,獨立的樣品處理器,可以保障樣品分析的的同時,進行下一批次樣品的前處理工作,進而提高儀器和人員的工作效率,儀器通過AI智能判定模式及多種樣品處理方案,真空抽離及升溫脫水,注氣保護等方式,使樣品達到制備要求。

    Kubo-X2000比表面及孔徑分析儀擺脫電腦控制,主機嵌入了穩定的WINDOWS CE工控系統,給用戶提供簡潔明了的操作界面。一鍵式啟動,自動測試并存儲數據,內置至少可用10年的存儲空間。隨時查看、調取以往數據,預留USB接口,即時導出并打印。控制界面可實時顯示每個數據點的信息并預測下一個數據點的位置,方便用戶查看運行狀態,實時顯示運行進度。

    Kubo-X2000比表面及孔徑分析儀擁有強大的控制系統,支持自定義分析模式(超微孔/微孔/介孔/比表面/常溫反應);支持自定義各模型的數據取點范圍;支持自定義投氣量;支持自定義吸/脫附平衡時間判定模式。方便用戶擴展豐富的測試應用。

    技術參數
    測試功能:吸附及脫附等溫線,BET/Langmuir比表面積,
    BJH孔體積/孔面積/總孔容積/總孔面積分析,t-plot/MP/HK/SF/DR等微孔分析/可使用氬氣或二氧化碳對特殊微孔樣品進行分析
    測試范圍:比表面積≥0.0005m2/g;孔徑分析0.35nm-500nm
    測試精度:±1%(≤1m2/g的樣品:±1.5%)
    分析站:2組測試單元,每組多配置3個樣品分析口和1個Po分析口(每組測試單元配置獨立的杜瓦瓶、升降系統、控制單元)
    脫氣站:獨立多站智能型樣品制備站,配置加熱爐,溫度上限400℃,配置獨立機械泵和壓力傳感器,AI觸控系統,可智能判定樣品處理完成度
    壓力檢測系統:每個分析口配置進口多量程壓力傳感器,軟件端可實時查看各位置壓力值(傳感器量程:0-0.1torr、0-10torr、0-1000torr),飽和蒸汽壓測試位配置獨立的壓力傳感器,對飽和蒸氣壓進行實時采集
    真空系統:主機配置進口雙級旋片機械泵和渦輪分子泵組,極限真空為1×10-6Pa;
    分壓范圍:P/P0 3×10-8-0.995
    儀器控制系統:雙控制系統,主機嵌入2-3組windows CE 觸控系統,可與計算機系統共同控制儀器運行,并實時顯示儀器運行狀態,在無計算機情況下也可獨立運行




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